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MP2110Aで光モジュール・光デバイスの生産効率向上・生産コスト削減を実現【アンリツ】

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BERTWave MP2110A

 アンリツは、光モジュール・光デバイスの製造・検査用測定器であるBERTWave MP2110Aのサンプリングオシロスコープ機能を強化。新たに開発したオプションを、1月17日から販売開始した。用途は光モジュール(CFP2/4/8、QSFP28、SFP28、OSFP、QSFP-DDなど)、光デバイス、Active Optical Cable、光デバイスの製造・検査。
 今回開発されたオプションは次の3種類。

  • オプション054 波形解析用クロックリカバリ (電気/光)
  • オプション095 PAM4解析ソフトウェア
  • オプション096 Jitter解析ソフトウェア

 これらのオプションをMP2110Aに搭載することにより、光モジュールや光デバイスの評価で必要とされる波形生成、 PAM4信号の解析、ジッタの解析が1台の測定器で行え、検査時間の短縮、歩留まり向上、設備投資の低減に寄与する。

開発の背景

 定額制の動画サービスやクラウドサービスの普及にともない、データ通信量は増大の一途にある。このため、伝送装置の光インターフェースや光モジュール、光デバイスの高速化が必須となっている。
 これら光部品の生産では、 BER測定やサンプリングオシロスコープを用いた波形解析が行われている。
 アンリツは従来からこの用途のための測定器として、BER測定器とサンプリングオシロスコープを一体化したBERTwave2110Aを提供している。
 さらに今回、サンプリングオシロスコープ機能を強化し、高速化のキーテクノロジーとなっているPAM4方式の信号解析を実現した。またサンプリングオシロスコープの波形観測に必要なトリガ信号の生成やジッタ成分の分離解析も可能とし、ユーザの多様な測定ニーズに対応した。

製品概要

 BERTwave MP2110Aは、BER測定器とサンプリングオシロスコープを一体化した測定器だ。今回の開発した次のオプションを使用することにより、従来のBER測定、 アイパターン解析に加え、トリガ信号の生成、PAM4信号の解析、ジッタの解析が1台のMP2110Aで行える。

オプション054 波形解析用クロックリカバリ (電気/光)

 入力データ信号からトリガ信号を生成でき、クロック源のない伝送装置でも波形観測が可能になる。安価な測定系でNRZ/PAM4両方のクロック再生に対応でき、設備投資費用の削減に貢献する。また、MP2110A内部の分岐によるロスを減らしたことにより、波形観測を高感度に行える。

オプション095 PAM4解析ソフトウェア

 TDECQなどPAM4光信号の解析が行えます。複雑な設定を行うことなく、簡単に評価結果を得ることができるとともに、測定時間を短縮でき、生産性向上に貢献する。

オプション096 Jitter解析ソフトウェア

 TJ、DJ、RJなどジッタ成分の分離解析を高速かつ簡単に行える。アイマスク試験も同時に行え、測定時間を短縮できる。

主な特長

PAM4光デバイス・モジュールの生産性向上に貢献

 MP2110Aを使用することにより、PAM4方式の光モジュールや光デバイスの 評価が短時間かつ高感度に行え、歩留まり向上に貢献する。

設備コスト低減に貢献

 1台のMP2110AでBER測定、アイパターン解析、PAM4信号解析、ジッタ解析が行える。